テスト仕様特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００８－２４２５４０（Ｐ２００８－２４２５４０Ａ）
(43)【公開日】平成２０年１０月９日（２００８．１０．９）
(54)【発明の名称】テスト仕様書生成プログラム、およびテスト仕様書生成装置
(51)【国際特許分類】

   G06F   9/44     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F  9/06    620 K

【審査請求】未請求
【請求項の数】４
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】２７
(21)【出願番号】特願２００７－７８０７７（Ｐ２００７－７８０７７）
(22)【出願日】平成１９年３月２６日（２００７．３．２６）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５２２３
【氏名又は名称】富士通株式会社
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号
(74)【代理人】
【識別番号】１０００９２１５２
【弁理士】
【氏名又は名称】服部 毅巖
(72)【発明者】
【氏名】矢野 啓介
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号 富士通株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】金井 剛
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号 富士通株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B176

【Ｆターム（参考）】

5B176 DF04 EC07 

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(57)【要約】
【課題】業務上重要な処理についてテストするための業務の実態に即したシステムテスト仕様書を自動生成する。
【解決手段】更新情報記憶手段１１は、データ更新処理の処理識別情報、データ更新処理が更新したデータ集合のデータ集合名、および更新時刻で構成される更新情報を記憶する。機能テスト情報記憶手段１２は、業務フローを構成する業務ステップを実現する各モジュールが、要求を満たしているか否かをチェックする機能テストの手順を示す機能テスト情報を記憶する。業務フロー抽出手段１３は、データ更新処理によって更新されたデータ集合のデータ集合名を、更新時刻の早い順に並べたフロー情報を生成する。システムテスト情報生成手段１４は、機能テスト情報から、フロー情報に示された業務フローごとに、業務フローを構成する業務ステップの並び順に対応して並べた機能テストの並び順を示すシステムテスト情報を生成する。
【選択図】図１

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータシステムのシステムテスト仕様書を自動生成するテスト仕様書生成プログラムにおいて、
コンピュータを、
複数のデータ集合の更新処理を含むデータ更新処理を個々に識別する処理識別情報と、前記データ更新処理によって更新された前記データ集合のデータ集合名と、前記データ集合が更新された更新時刻とをそれぞれ関連付けて記憶する更新情報記憶手段、
前記コンピュータシステムで実行される業務フローを構成する業務ステップを実現する各モジュールが、要求を満たしているか否かをチェックする機能テストの手順を示す機能テスト情報を記憶する機能テスト情報記憶手段、
前記更新情報記憶手段が記憶する前記更新情報から、前記処理識別情報により同一と識別される前記データ更新処理ごとに、前記データ更新処理によって更新された前記データ集合の前記データ集合名を、前記更新時刻の早い順に並べたフロー情報を生成する業務フロー抽出手段、
前記機能テスト情報記憶手段が記憶する前記機能テスト情報から、前記業務フロー抽出手段で生成した前記フロー情報に示された前記業務フローごとに、前記業務フローを構成する前記業務ステップの並び順に対応して並べた前記機能テストの並び順を示すシステムテスト情報を生成するシステムテスト情報生成手段、
として機能させることを特徴とするテスト仕様書生成プログラム。
【請求項２】
前記コンピュータを、さらに、
前記業務フロー抽出手段が生成した前記フロー情報から、同一の前記フロー情報の出現数をそれぞれ計算すると共に、前記業務フロー抽出手段が生成した前記フロー情報で示される前記業務フローの前記出現数が所定の閾値以上の前記業務フローを、典型業務フローと判定する業務フロー判定手段、
として機能させ、
前記システムテスト情報生成手段は、前記機能テスト情報記憶手段が記憶する前記機能テスト情報から、前記業務フロー判定手段によって判定された前記典型業務フローのみを対象として前記システムテスト情報を生成することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様書生成プログラム。
【請求項３】
前記コンピュータを、さらに、
前記システムテスト情報を記憶する前記システムテスト情報記憶手段、
前記業務フロー抽出手段が生成した前記フロー情報のうち、前記システムテスト情報記憶手段が記憶する前記システムテスト情報から、前記システムテスト情報が生成されていない前記業務フローを、未登録業務フローと判定する業務フロー判定手段、
として機能させ、
前記システムテスト情報生成手段は、前記未登録業務フローのみを対象として前記システムテスト情報を生成し、生成した当該システムテスト情報を前記システムテスト情報記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項１記載のテスト仕様書生成プログラム。
【請求項４】
コンピュータシステムのシステムテスト仕様書を自動生成するテスト仕様書生成装置において、
複数のデータ集合の更新処理を含むデータ更新処理を個々に識別する処理識別情報と、前記データ更新処理によって更新された前記データ集合のデータ集合名と、前記データ集合が更新された更新時刻とをそれぞれ関連付けて記憶する更新情報記憶手段と、
前記コンピュータシステムで実行される業務フローを構成する業務ステップを実現する各モジュールが、要求を満たしているか否かをチェックする機能テストの手順を示す機能テスト情報を記憶する機能テスト情報記憶手段と、
前記更新情報記憶手段が記憶する前記更新情報から、前記処理識別情報により同一と識別される前記データ更新処理ごとに、前記データ更新処理によって更新された前記データ集合の前記データ集合名を、前記更新時刻の早い順に並べたフロー情報を生成する業務フロー抽出手段と、
前記機能テスト情報記憶手段が記憶する前記機能テスト情報から、前記業務フロー抽出手段で生成した前記フロー情報に示された前記業務フローごとに、前記業務フローを構成する前記業務ステップの並び順に対応して並べた前記機能テストの並び順を示すシステムテスト情報生成するシステムテスト情報生成手段と、
を有することを特徴とするテスト仕様書生成装置。

テスト仕様特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００８－２４２７３８（Ｐ２００８－２４２７３８Ａ）
(43)【公開日】平成２０年１０月９日（２００８．１０．９）
(54)【発明の名称】テスト仕様書作成プログラム、テスト仕様書作成装置、およびテスト仕様書作成方法
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/28     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A

【審査請求】未請求
【請求項の数】７
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】２８
(21)【出願番号】特願２００７－８１６１５（Ｐ２００７－８１６１５）
(22)【出願日】平成１９年３月２７日（２００７．３．２７）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５２２３
【氏名又は名称】富士通株式会社
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号
(74)【代理人】
【識別番号】１００１０４１９０
【弁理士】
【氏名又は名称】酒井 昭徳
(72)【発明者】
【氏名】小高 敏裕
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号 富士通株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】山本 里枝子
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号 富士通株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】上原 忠弘
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号 富士通株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】片山 朝子
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号 富士通株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B042

【Ｆターム（参考）】

5B042 GA10 GB02 HH12 HH19 MA14 MC08 

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(57)【要約】　　　（修正有）
【課題】容易かつ詳細なテスト仕様書を自動作成することにより、作成者の作成負担軽減を図ること。
【解決手段】Ｗｅｂ画面ＪＳＰ１の期待値情報書き込み後のテスト仕様書データ１１０において、領域１４００内のセルに期待値情報が書き込まれていることがわかる。つぎに、Ｗｅｂ画面ＪＳＰ１の操作手順記述『入力欄に「粂」を入力して、検索ボタンを押す』どおりに入力情報を与えてＨＴＴＰリクエストをＷｅｂサーバに送信すると、そのメタ情報付きレスポンスＨＴＭＬを受信する。このメタ情報付きレスポンスＨＴＭＬは、Ｗｅｂブラウザにより、Ｗｅｂ画面ＪＳＰ２として表示される。このメタ情報付きレスポンスＨＴＭＬを解析することでＷｅｂ画面ＪＳＰ２に関する期待値情報を抽出する。これにより、領域１５００内のセルに期待値情報が書き込まれている。
【選択図】図１５

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータを、
ＷｅｂサーバにインストールされるＷｅｂアプリケーションのテストケースに含まれている一連の画面遷移仕様が記述された未完成のテスト仕様書データを受け付ける受付手段、
前記一連の画面遷移仕様の中から選ばれた画面遷移仕様のＷｅｂ画面を要求するリクエストを前記Ｗｅｂアプリケーションに与えることにより、前記Ｗｅｂアプリケーションの実行結果として得られる出力項目を含むレスポンスを取得する取得手段、
前記取得手段によって取得されたレスポンスに含まれている出力項目に基づいて、前記レスポンスの中から前記画面遷移仕様に対する期待値を抽出する抽出手段、
前記抽出手段によって抽出された期待値を前記画面遷移仕様に関連付けて、前記受付手段によって受け付けられたテスト仕様書データへ書き込む書き込み手段、
として機能させることを特徴とするテスト仕様書作成プログラム。
【請求項２】
前記取得手段は、
前記出力項目と当該出力項目に関するメタ情報とを含むレスポンスを取得し、
前記抽出手段は、
前記取得手段によって取得されたレスポンスに含まれている出力項目に基づいて、前記レスポンスの中から前記画面遷移仕様に対する期待値と前記メタ情報とを抽出し、
前記書き込み手段は、
前記抽出手段によって抽出された期待値とメタ情報とを前記画面遷移仕様に関連付けて書き込むことを特徴とする請求項１に記載のテスト仕様書作成プログラム。
【請求項３】
前記メタ情報は、
前記期待値を挟むタグに埋め込まれていることを特徴とする請求項２に記載のテスト仕様書作成プログラム。
【請求項４】
前記取得手段は、
前記画面遷移仕様に操作手順記述が含まれている場合、当該操作手順記述にしたがって操作することで前記Ｗｅｂ画面の遷移先Ｗｅｂ画面を要求するリクエストを前記Ｗｅｂアプリケーションに与えることにより、前記Ｗｅｂアプリケーションの実行結果として得られる出力項目を含む前記遷移先Ｗｅｂ画面に関するレスポンスを取得し、
前記抽出手段は、
前記取得手段によって取得された前記遷移先Ｗｅｂ画面に関するレスポンスに含まれている出力項目に基づいて、前記遷移先Ｗｅｂ画面に関するレスポンスの中から前記遷移先Ｗｅｂ画面に関する画面遷移仕様に対する期待値を抽出し、
前記書き込み手段は、
前記抽出手段によって抽出された前記遷移先Ｗｅｂ画面に関する画面遷移仕様に対する期待値を前記遷移先Ｗｅｂ画面の画面遷移仕様に関連付けて書き込むことを特徴とする請求項１～３のいずれか一つに記載のテスト仕様書作成プログラム。
【請求項５】
前記取得手段は、
前記Ｗｅｂ画面の遷移先Ｗｅｂ画面を要求するリクエストを前記Ｗｅｂアプリケーションに与えることにより、前記Ｗｅｂアプリケーションの実行結果として得られる出力項目を含む前記遷移先Ｗｅｂ画面に関するレスポンスを取得し、
前記抽出手段は、
前記取得手段によって取得された前記遷移先Ｗｅｂ画面に関するレスポンスに含まれている出力項目に基づいて、前記遷移先Ｗｅｂ画面に関するレスポンスの中から前記遷移先Ｗｅｂ画面に関する画面遷移仕様に対する期待値を抽出し、
前記書き込み手段は、
前記抽出手段によって抽出された前記遷移先Ｗｅｂ画面に関する画面遷移仕様に対する期待値を前記遷移先Ｗｅｂ画面の画面遷移仕様に関連付けて書き込むことを特徴とする請求項１～３のいずれか一つに記載のテスト仕様書作成プログラム。
【請求項６】
ＷｅｂサーバにインストールされるＷｅｂアプリケーションのテストケースに含まれている一連の画面遷移仕様が記述された未完成のテスト仕様書データを受け付ける受付手段と、
前記一連の画面遷移仕様の中から選ばれた画面遷移仕様のＷｅｂ画面を要求するリクエストを前記Ｗｅｂアプリケーションに与えることにより、前記Ｗｅｂアプリケーションの実行結果として得られる出力項目を含むレスポンスを取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得されたレスポンスに含まれている出力項目に基づいて、前記レスポンスの中から前記画面遷移仕様に対する期待値を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された期待値を前記画面遷移仕様に関連付けて、前記受付手段によって受け付けられたテスト仕様書データへ書き込む書き込み手段と、
を備えることを特徴とするテスト仕様書作成装置。
【請求項７】
ＷｅｂサーバにインストールされるＷｅｂアプリケーションのテストケースに含まれている一連の画面遷移仕様が記述された未完成のテスト仕様書データを受け付ける受付工程と、
前記一連の画面遷移仕様の中から選ばれた画面遷移仕様のＷｅｂ画面を要求するリクエストを前記Ｗｅｂアプリケーションに与えることにより、前記Ｗｅｂアプリケーションの実行結果として得られる出力項目を含むレスポンスを取得する取得工程と、
前記取得工程によって取得されたレスポンスに含まれている出力項目に基づいて、前記レスポンスの中から前記画面遷移仕様に対する期待値を抽出する抽出工程と、
前記抽出工程によって抽出された期待値を前記画面遷移仕様に関連付けて、前記受付工程によって受け付けられたテスト仕様書データへ書き込む書き込み工程と、
を含んだことを特徴とするテスト仕様書作成方法。

テスト仕様特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００８－２９３３８２（Ｐ２００８－２９３３８２Ａ）
(43)【公開日】平成２０年１２月４日（２００８．１２．４）
(54)【発明の名称】テスト仕様自動生成方式
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/36     (2006.01)
   G06F  11/28     (2006.01)
   G06F   9/44     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F  9/06    620 M
   G06F 11/28    340 A
   G06F  9/06    620 A

【審査請求】未請求
【請求項の数】６
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１９
(21)【出願番号】特願２００７－１３９７５３（Ｐ２００７－１３９７５３）
(22)【出願日】平成１９年５月２５日（２００７．５．２５）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５２３４
【氏名又は名称】富士電機ホールディングス株式会社
【住所又は居所】神奈川県川崎市川崎区田辺新田１番１号
(74)【代理人】
【識別番号】１０００７４０９９
【弁理士】
【氏名又は名称】大菅 義之
(72)【発明者】
【氏名】西田 廣治
【住所又は居所】東京都日野市富士町１番地 富士電機アドバンストテクノロジー株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】城戸 武志
【住所又は居所】東京都日野市富士町１番地 富士電機アドバンストテクノロジー株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B042
5B176

【Ｆターム（参考）】

5B042 HH17 HH19 
5B176 CA08 EC02 EC05 

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(57)【要約】
【課題】要求仕様記述および自動生成したテストシナリオパスからテスト仕様を自動的に生成するテスト仕様自動生成方式を提供する。
【解決手段】クライアント11は、要求仕様の記述画面で必要な項目への記述を行って要求仕様を要求仕様ファイル２に格納する(１)。テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。テスト仕様生成処理部９は、要求仕様ファイル２からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出する(７)とともに、テストシナリオパスファイル５からテストシナリオパスのデータ項目を抽出して(８)、「判定」項目以外の項目にテスト仕様を自動生成し、テスト仕様ファイル３に生成したデータを格納する(９)。
【選択図】図１０

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト仕様生成に関するデータ項目およびテストシナリオパス生成に関するデータ項目について要求仕様記述がなされた要求仕様を格納する要求仕様ファイルと、
テストシナリオパス生成処理手段の処理によって生成されるテストシナリオパスの処理過程中のデータを一時保存するテストシナリオパステーブルと、
前記テストシナリオパス生成処理手段の処理によって自動生成されたテストシナリオパスを格納するテストシナリオパスファイルと、
テスト仕様生成処理手段の処理によって自動生成されたテスト仕様データとテスト担当者入力の判定データとを格納するテスト仕様ファイルと、を有し、
テスト担当者指示により起動され、前記要求仕様ファイルに格納された要求仕様の中からテストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつテスト担当者によって指定されたテスト戦略に対応するテストシナリオパスを、前記テストシナリオパステーブルに一時保存された処理過程中のデータを用いてテストシナリオパスを自動的に生成するテストシナリオパス生成処理手段と、
テスト担当者指示により起動され、前記要求仕様ファイルに格納された要求仕様の中からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出するとともに、前記テストシナリオパスファイルに格納されたテストシナリオパスの中からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出して、判定項目を除くテスト仕様を自動的に生成するテスト仕様生成処理手段と、
を備えていることを特徴とするテスト仕様自動生成方式。
【請求項２】
前記要求仕様ファイルに記述される要求仕様は、機能要求項目または非機能要求項目についてそれぞれ統一モデリング言語ＵＭＬのユースケース図を用いてユースケースを記述するデータ項目を設け、さらに形式的仕様記述言語ＶＤＭ－ＳＬの「操作定義」構文に基づき、前記ユースケース記述によるイベントフローのイベントに事前条件、事後条件、次のイベントの項目を設けるとともに形式的仕様記述言語ＶＤＭ－ＳＬの「型定義」構文に基づき、入力データに対する境界値および外部データによる境界値の項目を設け、前記テストシナリオパス生成処理手段は前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の前記入力データに対する境界値および外部データによる境界値から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出し、前記テスト仕様生成処理手段は前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の前記イベントフローのイベントから前記テスト仕様生成に関するデータ項目を抽出することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項３】
例外項目生成処理手段の処理によって自動生成された例外項目イベントを格納する例外項目イベントファイルと、
テスト担当者指示により起動され、前記要求仕様ファイルに格納された要求仕様の中から例外項目イベント生成に関するデータ項目として前記入力データに対する境界値および外部データによる境界値を抽出して、例外項目イベントを自動的に生成し前記例外項目イベントファイルに格納するとともに自動生成された前記例外項目イベントを前記要求仕様ファイルに追記する例外項目生成処理手段と、を有し、
前記例外項目イベントが前記要求仕様ファイルに追記された場合には、追記された前記要求仕様ファイルにアクセスして前記例外項目イベントに対して前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目および前記テスト仕様生成に関するデータ項目について要求仕様記述の追加を行うことを特徴とする請求項２記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項４】
前記テスト仕様生成処理手段は、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テスト仕様生成に関するデータ項目を抽出し該データ項目を前記テスト仕様のデータ項目に変換し該データ項目に仕様を設定する第１のデータ項目変換設定手段と、
前記テストシナリオパスファイルに格納されたテストシナリオパスの中からテスト仕様
生成に関するデータ項目を抽出し該データ項目を前記テスト仕様のデータ項目に変換し該データ項目に仕様を設定する第２のデータ項目変換設定手段と、
を有することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項５】
前記テスト戦略として、分岐が３分岐以上となるときは分岐を分離して全てのパスを通る全シナリオ、分岐が３分岐以上となるときも１つの分岐として全てのパスを通る全分岐、および全てのイベントを通る最少のパスをテストシナリオパスとするイベント網羅を設け、イベント網羅度をテスト戦略として前記テスト担当者が設定するために前記全シナリオ、前記全分岐および前記イベント網羅のうちのいずれか一つを指定し、前記テストシナリオパス生成処理手段は、前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記いずれか一つが指定されたテスト戦略に対応するテストシナリオパスを、前記テストシナリオパステーブルに一時保存された処理過程中のデータを用いてテストシナリオパスを自動的に生成することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項６】
前記テストシナリオパス生成処理手段は、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記テスト戦略として全シナリオが指定されたことに伴い全シナリオに対応するテストシナリオパスを生成する全シナリオテストシナリオパス生成手段と、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記テスト戦略として全分岐が指定されたことに伴い全分岐に対応するテストシナリオパスを生成する全分岐テストシナリオパス生成手段と、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記テスト戦略としてイベント網羅が指定されたことに伴いイベント網羅に対応するテストシナリオパスを生成するイベント網羅テストシナリオパス生成手段と、
を有することを特徴とする請求項５記載のテスト仕様自動生成方式。

テストデータ作成特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開平９－２８８５９１
(43)【公開日】平成９年（１９９７）１１月４日
(54)【発明の名称】テストデータ作成装置およびその方法
(51)【国際特許分類第６版】

   G06F 11/22    310          
   G01R 31/3183               

【ＦＩ】

   G06F 11/22    310 B        
   G01R 31/28        Q        

【審査請求】未請求
【請求項の数】１０
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１３
(21)【出願番号】特願平８－１０２２０５
(22)【出願日】平成８年（１９９６）４月２４日
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５１０８
【氏名又は名称】株式会社日立製作所
【住所又は居所】東京都千代田区神田駿河台四丁目６番地
(72)【発明者】
【氏名】彦根 和文
【住所又は居所】茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株式会社日立製作所日立研究所内
(72)【発明者】
【氏名】畠山 一実
【住所又は居所】茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株式会社日立製作所日立研究所内
(72)【発明者】
【氏名】西田 隆夫
【住所又は居所】神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日立製作所汎用コンピュータ事業部内
(72)【発明者】
【氏名】山田 弘道
【住所又は居所】神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日立製作所汎用コンピュータ事業部内
(74)【代理人】
【弁理士】
【氏名又は名称】小川 勝男

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(57)【要約】
【課題】ＬＳＩ中の機能ブロックの製造不良による故障を検出するテストデータの作成コストを大幅に低減する。
【解決手段】ＬＳＩの持つ命令により決まる機能ブロックの入力信号条件と出力信号条件を入力し、機能ブロック論理データに対して該入力信号条件と該出力信号条件を満たすテストパターン生成を行い機能ブロック境界におけるテストパターンを作成するテストパターン生成部と、該機能ブロック境界におけるテストパターンを命令列に変換してテストデータを作成する命令列生成部を有する。
【効果】テストパターンの作成対象をＬＳＩの機能ブロックの論理データを対象とするため、テストパターンの作成時間が短くて済み、また、作成されたテストパターンは該入力信号条件と該出力信号条件を満たすため、容易に命令列に変換できる。これにより、テストデータの作成コストを低減できる。

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【特許請求の範囲】
【請求項１】プロセッサＬＳＩ中の機能ブロックの製造不良検出に用いるテストデータを作成するテストデータ作成装置であって、テストデータ作成対象の機能ブロックを動作させる前記プロセッサＬＳＩの一操作に対して、前記機能ブロックの論理データに基づき、前記機能ブロックのブロック端において前記機能ブロック内の故障を検出し、かつ、前記一操作に基づく命令を実行する時の前記機能ブロックのブロック端に対する入力信号の条件および当該命令を実行した時に該プロセッサＬＳＩ外部で前記機能ブロックのブロック端における出力信号が観測可能となる出力信号の条件を満たす前記機能ブロックのブロック端におけるテストパターンを作成するテストパターン生成部と、前記テストパターン生成部により生成されたテストパターンに基づき、前記機能ブロック端の出力を前記プロセッサＬＳＩの外部端子で検出可能とする前記プロセッサＬＳＩの機械語命令列を生成する命令列生成部とを有することを特徴とするテストデータ作成装置。
【請求項２】前記命令列生成部は、前記機能ブロック端における入力信号と該入力信号を印加するために必要な記憶素子の信号との対応関係を表す情報と前記テストパターンに応じて、該テストパターンを前記記憶素子から当該機能ブロックに印加するために必要な前記記憶素子の状態を設定する当該プロセッサＬＳＩの第１の機械語命令列を作成する状態設定命令列作成部と、前記記憶素子の状態と前記命令の命令形式に基づき、前記テストパターンを機能ブロックに印加するプロセッサＬＳＩの機械語命令を作成するパターン印加命令作成部と、前記機能ブロックにおける前記機械語命令の実行結果である出力信号を当該プロセッサＬＳＩ外部で観測するための当該プロセッサＬＳＩの第２の機械語命令列を作成する観測命令列作成部とを有することを特徴とする請求項１に記載のテストデータ作成装置。
【請求項３】前記テストパターン生成部における前記入力信号の条件は、前記命令の命令形式に対応して定まる前記機能ブロックのブロック端における入力信号値の組合せであって、前記命令を実行した結果として得られる当該ブロック端における出力信号のうち、プロセッサＬＳＩの外部端子にて観測可能な当該機能ブロック端における出力信号の集合から一つまたは全ての要素を取り出し、該要素を前記出力信号の条件とすることを特徴とする請求項１に記載のテストデータ作成装置。
【請求項４】前記テストパターン生成部における前記入力信号の条件に対して、前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が観測できなくなる入力信号値の組合せを加えることを特徴とする請求項３に記載のテストデータ作成装置。
【請求項５】前記テストパターン生成部における前記出力信号の条件に対して、前記命令を実行した結果として得られる前記機能ブロック端における出力信号が、前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が当該プロセッサＬＳＩの外部端子で観測不能となる出力信号値と該機能ブロック端の組合せを加えることを特徴とする請求項３に記載のテストデータ作成装置。
【請求項６】プロセッサＬＳＩ中の機能ブロックの製造不良検出に用いるテストデータを作成するテストデータ作成方法において、テストデータ作成対象の機能ブロックを動作させる前記プロセッサＬＳＩの一操作に対して、前記機能ブロックの論理データに基づき、前記機能ブロックのブロック端において前記機能ブロック内の故障を検出し、かつ、前記一操作に基づく命令を実行する時の前記機能ブロックのブロック端に対する入力信号の条件および当該命令を実行した時に該プロセッサＬＳＩ外部で前記機能ブロックのブロック端における出力信号が観測可能となる出力信号の条件を満たす前記機能ブロックのブロック端におけるテストパターンを作成し、作成された前記テストパターンに基づき、前記機能ブロック端の出力を前記プロセッサＬＳＩの外部端子で検出可能とする前記プロセッサＬＳＩの機械語命令列を生成することを特徴とするテストデータ作成方法。
【請求項７】前記機能ブロック端における入力信号と該入力信号を印加するために必要な記憶素子の信号との対応関係を表す情報と前記テストパターンに応じて、該テストパターンを前記記憶素子から当該機能ブロックに印加するために必要な前記記憶素子の状態を設定する当該プロセッサＬＳＩの第１の機械語命令列を作成し、前記記憶素子の状態と前記命令の命令形式に基づき、前記テストパターンを機能ブロックに印加するプロセッサＬＳＩの機械語命令を作成し、前記機能ブロックにおける前記機械語命令の実行結果である出力信号を当該プロセッサＬＳＩ外部で観測するための当該プロセッサＬＳＩの第２の機械語命令列を作成することを特徴とする請求項６に記載のテストデータ作成方法。
【請求項８】前記命令の命令形式に対応して定まる前記機能ブロックのブロック端における入力信号値の組合せを該入力信号の条件とし、当該命令を実行した結果として得られる当該ブロック端における出力信号のうち、プロセッサＬＳＩの外部端子にて観測可能な当該ブロック端における出力信号の集合を前記出力信号の条件とすることを特徴とする請求項６に記載のテストデータ作成方法。
【請求項９】前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が観測できなくなる入力信号値の組合せを、前記入力信号の条件に加えることを特徴とする請求項８に記載のテストデータ作成方法。
【請求項１０】前記命令を実行した結果として得られる前記機能ブロック端における出力信号が、前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が当該プロセッサＬＳＩの外部端子で観測不能となる出力信号値と該機能ブロック端の組合せを前記出力信号の条件に加えることを特徴とする請求項８に記載のテストデータ作成方法。

テストデータ作成特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開平１１－１２００２９
(43)【公開日】平成１１年（１９９９）４月３０日
(54)【発明の名称】ソフトウェアテストデータ作成支援方法
(51)【国際特許分類第６版】

   G06F 11/28    340          
         9/06    540          

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A        
         9/06    540 U        

【審査請求】未請求
【請求項の数】２
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】９
(21)【出願番号】特願平９－２８４９１０
(22)【出願日】平成９年（１９９７）１０月１７日
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５１０８
【氏名又は名称】株式会社日立製作所
【住所又は居所】東京都千代田区神田駿河台四丁目６番地
(72)【発明者】
【氏名】島袋 潤
【住所又は居所】神奈川県川崎市麻生区王禅寺１０９９番地株式会社日立製作所システム開発研究所内
(74)【代理人】
【弁理士】
【氏名又は名称】小川 勝男

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(57)【要約】
【課題】ドライバ／スタブを用いたソフトウェアモジュールの単体テストおよび結合テストでは、テストデータの作成に工数を要する。
【解決手段】単体テスト用データ作成時には、動作シーケンス定義１００とデータ書式定義１０１によって、値決定が必要なフィールドのみをユーザに示す。作成したテストデータは、単体テスト用データ１０６として登録する。結合テスト用データ作成時には、１０２，１０６により、値決定が必要なフィールドのみさらに減少させる。

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【特許請求の範囲】
【請求項１】複数のモジュールからなるソフトウェアのテストデータ作成支援方法であって、テスト対象となる動作をユーザに指定させるステップと、一つのテスト対象モジュールをユーザに指定させるステップと、モジュール間通知の書式定義情報に基づいてデータ値の定義が必要なフィールドをユーザに提示するステップと、該フィールドの値をユーザに指定させるステップとからなることを特徴とするソフトウェアテストデータ作成支援方法。
【請求項２】請求項１に記載のソフトウェアテストデータ作成支援であって、さらに、作成したテストデータを登録するステップと、複数のテスト対象モジュールをユーザに指定させるステップと、モジュール間通知の書式定義情報および該登録されたテストデータに基づいてデータ値の定義が必要なフィールドをユーザに提示するステップとを持つことを特徴とするソフトウェアテストデータ作成支援方法。