テスト仕様特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００８－２９３３８２（Ｐ２００８－２９３３８２Ａ）
(43)【公開日】平成２０年１２月４日（２００８．１２．４）
(54)【発明の名称】テスト仕様自動生成方式
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/36     (2006.01)
   G06F  11/28     (2006.01)
   G06F   9/44     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F  9/06    620 M
   G06F 11/28    340 A
   G06F  9/06    620 A

【審査請求】未請求
【請求項の数】６
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１９
(21)【出願番号】特願２００７－１３９７５３（Ｐ２００７－１３９７５３）
(22)【出願日】平成１９年５月２５日（２００７．５．２５）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５２３４
【氏名又は名称】富士電機ホールディングス株式会社
【住所又は居所】神奈川県川崎市川崎区田辺新田１番１号
(74)【代理人】
【識別番号】１０００７４０９９
【弁理士】
【氏名又は名称】大菅 義之
(72)【発明者】
【氏名】西田 廣治
【住所又は居所】東京都日野市富士町１番地 富士電機アドバンストテクノロジー株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】城戸 武志
【住所又は居所】東京都日野市富士町１番地 富士電機アドバンストテクノロジー株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B042
5B176

【Ｆターム（参考）】

5B042 HH17 HH19 
5B176 CA08 EC02 EC05 

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(57)【要約】
【課題】要求仕様記述および自動生成したテストシナリオパスからテスト仕様を自動的に生成するテスト仕様自動生成方式を提供する。
【解決手段】クライアント11は、要求仕様の記述画面で必要な項目への記述を行って要求仕様を要求仕様ファイル２に格納する(１)。テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。テスト仕様生成処理部９は、要求仕様ファイル２からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出する(７)とともに、テストシナリオパスファイル５からテストシナリオパスのデータ項目を抽出して(８)、「判定」項目以外の項目にテスト仕様を自動生成し、テスト仕様ファイル３に生成したデータを格納する(９)。
【選択図】図１０

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト仕様生成に関するデータ項目およびテストシナリオパス生成に関するデータ項目について要求仕様記述がなされた要求仕様を格納する要求仕様ファイルと、
テストシナリオパス生成処理手段の処理によって生成されるテストシナリオパスの処理過程中のデータを一時保存するテストシナリオパステーブルと、
前記テストシナリオパス生成処理手段の処理によって自動生成されたテストシナリオパスを格納するテストシナリオパスファイルと、
テスト仕様生成処理手段の処理によって自動生成されたテスト仕様データとテスト担当者入力の判定データとを格納するテスト仕様ファイルと、を有し、
テスト担当者指示により起動され、前記要求仕様ファイルに格納された要求仕様の中からテストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつテスト担当者によって指定されたテスト戦略に対応するテストシナリオパスを、前記テストシナリオパステーブルに一時保存された処理過程中のデータを用いてテストシナリオパスを自動的に生成するテストシナリオパス生成処理手段と、
テスト担当者指示により起動され、前記要求仕様ファイルに格納された要求仕様の中からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出するとともに、前記テストシナリオパスファイルに格納されたテストシナリオパスの中からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出して、判定項目を除くテスト仕様を自動的に生成するテスト仕様生成処理手段と、
を備えていることを特徴とするテスト仕様自動生成方式。
【請求項２】
前記要求仕様ファイルに記述される要求仕様は、機能要求項目または非機能要求項目についてそれぞれ統一モデリング言語ＵＭＬのユースケース図を用いてユースケースを記述するデータ項目を設け、さらに形式的仕様記述言語ＶＤＭ－ＳＬの「操作定義」構文に基づき、前記ユースケース記述によるイベントフローのイベントに事前条件、事後条件、次のイベントの項目を設けるとともに形式的仕様記述言語ＶＤＭ－ＳＬの「型定義」構文に基づき、入力データに対する境界値および外部データによる境界値の項目を設け、前記テストシナリオパス生成処理手段は前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の前記入力データに対する境界値および外部データによる境界値から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出し、前記テスト仕様生成処理手段は前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の前記イベントフローのイベントから前記テスト仕様生成に関するデータ項目を抽出することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項３】
例外項目生成処理手段の処理によって自動生成された例外項目イベントを格納する例外項目イベントファイルと、
テスト担当者指示により起動され、前記要求仕様ファイルに格納された要求仕様の中から例外項目イベント生成に関するデータ項目として前記入力データに対する境界値および外部データによる境界値を抽出して、例外項目イベントを自動的に生成し前記例外項目イベントファイルに格納するとともに自動生成された前記例外項目イベントを前記要求仕様ファイルに追記する例外項目生成処理手段と、を有し、
前記例外項目イベントが前記要求仕様ファイルに追記された場合には、追記された前記要求仕様ファイルにアクセスして前記例外項目イベントに対して前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目および前記テスト仕様生成に関するデータ項目について要求仕様記述の追加を行うことを特徴とする請求項２記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項４】
前記テスト仕様生成処理手段は、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テスト仕様生成に関するデータ項目を抽出し該データ項目を前記テスト仕様のデータ項目に変換し該データ項目に仕様を設定する第１のデータ項目変換設定手段と、
前記テストシナリオパスファイルに格納されたテストシナリオパスの中からテスト仕様
生成に関するデータ項目を抽出し該データ項目を前記テスト仕様のデータ項目に変換し該データ項目に仕様を設定する第２のデータ項目変換設定手段と、
を有することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項５】
前記テスト戦略として、分岐が３分岐以上となるときは分岐を分離して全てのパスを通る全シナリオ、分岐が３分岐以上となるときも１つの分岐として全てのパスを通る全分岐、および全てのイベントを通る最少のパスをテストシナリオパスとするイベント網羅を設け、イベント網羅度をテスト戦略として前記テスト担当者が設定するために前記全シナリオ、前記全分岐および前記イベント網羅のうちのいずれか一つを指定し、前記テストシナリオパス生成処理手段は、前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記いずれか一つが指定されたテスト戦略に対応するテストシナリオパスを、前記テストシナリオパステーブルに一時保存された処理過程中のデータを用いてテストシナリオパスを自動的に生成することを特徴とする請求項１記載のテスト仕様自動生成方式。
【請求項６】
前記テストシナリオパス生成処理手段は、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記テスト戦略として全シナリオが指定されたことに伴い全シナリオに対応するテストシナリオパスを生成する全シナリオテストシナリオパス生成手段と、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記テスト戦略として全分岐が指定されたことに伴い全分岐に対応するテストシナリオパスを生成する全分岐テストシナリオパス生成手段と、
前記要求仕様ファイルに格納された前記要求仕様の中から前記テストシナリオパス生成に関するデータ項目を抽出しかつ前記テスト戦略としてイベント網羅が指定されたことに伴いイベント網羅に対応するテストシナリオパスを生成するイベント網羅テストシナリオパス生成手段と、
を有することを特徴とする請求項５記載のテスト仕様自動生成方式。