テストデータ作成特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開平９－２８８５９１
(43)【公開日】平成９年（１９９７）１１月４日
(54)【発明の名称】テストデータ作成装置およびその方法
(51)【国際特許分類第６版】

   G06F 11/22    310          
   G01R 31/3183               

【ＦＩ】

   G06F 11/22    310 B        
   G01R 31/28        Q        

【審査請求】未請求
【請求項の数】１０
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１３
(21)【出願番号】特願平８－１０２２０５
(22)【出願日】平成８年（１９９６）４月２４日
(71)【出願人】
【識別番号】０００００５１０８
【氏名又は名称】株式会社日立製作所
【住所又は居所】東京都千代田区神田駿河台四丁目６番地
(72)【発明者】
【氏名】彦根 和文
【住所又は居所】茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株式会社日立製作所日立研究所内
(72)【発明者】
【氏名】畠山 一実
【住所又は居所】茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株式会社日立製作所日立研究所内
(72)【発明者】
【氏名】西田 隆夫
【住所又は居所】神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日立製作所汎用コンピュータ事業部内
(72)【発明者】
【氏名】山田 弘道
【住所又は居所】神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日立製作所汎用コンピュータ事業部内
(74)【代理人】
【弁理士】
【氏名又は名称】小川 勝男

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(57)【要約】
【課題】ＬＳＩ中の機能ブロックの製造不良による故障を検出するテストデータの作成コストを大幅に低減する。
【解決手段】ＬＳＩの持つ命令により決まる機能ブロックの入力信号条件と出力信号条件を入力し、機能ブロック論理データに対して該入力信号条件と該出力信号条件を満たすテストパターン生成を行い機能ブロック境界におけるテストパターンを作成するテストパターン生成部と、該機能ブロック境界におけるテストパターンを命令列に変換してテストデータを作成する命令列生成部を有する。
【効果】テストパターンの作成対象をＬＳＩの機能ブロックの論理データを対象とするため、テストパターンの作成時間が短くて済み、また、作成されたテストパターンは該入力信号条件と該出力信号条件を満たすため、容易に命令列に変換できる。これにより、テストデータの作成コストを低減できる。

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【特許請求の範囲】
【請求項１】プロセッサＬＳＩ中の機能ブロックの製造不良検出に用いるテストデータを作成するテストデータ作成装置であって、テストデータ作成対象の機能ブロックを動作させる前記プロセッサＬＳＩの一操作に対して、前記機能ブロックの論理データに基づき、前記機能ブロックのブロック端において前記機能ブロック内の故障を検出し、かつ、前記一操作に基づく命令を実行する時の前記機能ブロックのブロック端に対する入力信号の条件および当該命令を実行した時に該プロセッサＬＳＩ外部で前記機能ブロックのブロック端における出力信号が観測可能となる出力信号の条件を満たす前記機能ブロックのブロック端におけるテストパターンを作成するテストパターン生成部と、前記テストパターン生成部により生成されたテストパターンに基づき、前記機能ブロック端の出力を前記プロセッサＬＳＩの外部端子で検出可能とする前記プロセッサＬＳＩの機械語命令列を生成する命令列生成部とを有することを特徴とするテストデータ作成装置。
【請求項２】前記命令列生成部は、前記機能ブロック端における入力信号と該入力信号を印加するために必要な記憶素子の信号との対応関係を表す情報と前記テストパターンに応じて、該テストパターンを前記記憶素子から当該機能ブロックに印加するために必要な前記記憶素子の状態を設定する当該プロセッサＬＳＩの第１の機械語命令列を作成する状態設定命令列作成部と、前記記憶素子の状態と前記命令の命令形式に基づき、前記テストパターンを機能ブロックに印加するプロセッサＬＳＩの機械語命令を作成するパターン印加命令作成部と、前記機能ブロックにおける前記機械語命令の実行結果である出力信号を当該プロセッサＬＳＩ外部で観測するための当該プロセッサＬＳＩの第２の機械語命令列を作成する観測命令列作成部とを有することを特徴とする請求項１に記載のテストデータ作成装置。
【請求項３】前記テストパターン生成部における前記入力信号の条件は、前記命令の命令形式に対応して定まる前記機能ブロックのブロック端における入力信号値の組合せであって、前記命令を実行した結果として得られる当該ブロック端における出力信号のうち、プロセッサＬＳＩの外部端子にて観測可能な当該機能ブロック端における出力信号の集合から一つまたは全ての要素を取り出し、該要素を前記出力信号の条件とすることを特徴とする請求項１に記載のテストデータ作成装置。
【請求項４】前記テストパターン生成部における前記入力信号の条件に対して、前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が観測できなくなる入力信号値の組合せを加えることを特徴とする請求項３に記載のテストデータ作成装置。
【請求項５】前記テストパターン生成部における前記出力信号の条件に対して、前記命令を実行した結果として得られる前記機能ブロック端における出力信号が、前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が当該プロセッサＬＳＩの外部端子で観測不能となる出力信号値と該機能ブロック端の組合せを加えることを特徴とする請求項３に記載のテストデータ作成装置。
【請求項６】プロセッサＬＳＩ中の機能ブロックの製造不良検出に用いるテストデータを作成するテストデータ作成方法において、テストデータ作成対象の機能ブロックを動作させる前記プロセッサＬＳＩの一操作に対して、前記機能ブロックの論理データに基づき、前記機能ブロックのブロック端において前記機能ブロック内の故障を検出し、かつ、前記一操作に基づく命令を実行する時の前記機能ブロックのブロック端に対する入力信号の条件および当該命令を実行した時に該プロセッサＬＳＩ外部で前記機能ブロックのブロック端における出力信号が観測可能となる出力信号の条件を満たす前記機能ブロックのブロック端におけるテストパターンを作成し、作成された前記テストパターンに基づき、前記機能ブロック端の出力を前記プロセッサＬＳＩの外部端子で検出可能とする前記プロセッサＬＳＩの機械語命令列を生成することを特徴とするテストデータ作成方法。
【請求項７】前記機能ブロック端における入力信号と該入力信号を印加するために必要な記憶素子の信号との対応関係を表す情報と前記テストパターンに応じて、該テストパターンを前記記憶素子から当該機能ブロックに印加するために必要な前記記憶素子の状態を設定する当該プロセッサＬＳＩの第１の機械語命令列を作成し、前記記憶素子の状態と前記命令の命令形式に基づき、前記テストパターンを機能ブロックに印加するプロセッサＬＳＩの機械語命令を作成し、前記機能ブロックにおける前記機械語命令の実行結果である出力信号を当該プロセッサＬＳＩ外部で観測するための当該プロセッサＬＳＩの第２の機械語命令列を作成することを特徴とする請求項６に記載のテストデータ作成方法。
【請求項８】前記命令の命令形式に対応して定まる前記機能ブロックのブロック端における入力信号値の組合せを該入力信号の条件とし、当該命令を実行した結果として得られる当該ブロック端における出力信号のうち、プロセッサＬＳＩの外部端子にて観測可能な当該ブロック端における出力信号の集合を前記出力信号の条件とすることを特徴とする請求項６に記載のテストデータ作成方法。
【請求項９】前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が観測できなくなる入力信号値の組合せを、前記入力信号の条件に加えることを特徴とする請求項８に記載のテストデータ作成方法。
【請求項１０】前記命令を実行した結果として得られる前記機能ブロック端における出力信号が、前記出力信号の条件に含まれる前記機能ブロック端の出力信号が当該プロセッサＬＳＩの外部端子で観測不能となる出力信号値と該機能ブロック端の組合せを前記出力信号の条件に加えることを特徴とする請求項８に記載のテストデータ作成方法。