テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００９－７５７０４（Ｐ２００９－７５７０４Ａ）
(43)【公開日】平成２１年４月９日（２００９．４．９）
(54)【発明の名称】テスト方法およびテスト装置並びにプログラム
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/28     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A

【審査請求】未請求
【請求項の数】１９
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１８
(21)【出願番号】特願２００７－２４２０１０（Ｐ２００７－２４２０１０）
(22)【出願日】平成１９年９月１９日（２００７．９．１９）
(71)【出願人】
【識別番号】３０２０６２９３１
【氏名又は名称】ＮＥＣエレクトロニクス株式会社
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区下沼部１７５３番地
(74)【代理人】
【識別番号】１００１０３８９４
【弁理士】
【氏名又は名称】家入 健
(72)【発明者】
【氏名】松本 岳大
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区下沼部１７５３番地 ＮＥＣエレクトロニクス株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B042

【Ｆターム（参考）】

5B042 HH49 

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(57)【要約】
【課題】電子機器に対して、テストシナリオの実行順序がテスト結果に与える影響を容易に検証することを実現する。
【解決手段】ホストコンピュータは、ｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次ターゲットデバイスに実行させることを複数回行うことによってターゲットデバイスの動作検証を行う。ホストコンピュータは、ｋ（ｋ≧２）回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択する際に、記憶装置に格納された（ｋ－１）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、ｋ回目のテストの１番目から（ｍ－１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択する。
【選択図】図３

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ターゲットデバイスに所定の動作を実行させるためのｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次実行するテストをｊ（ｊ≧２）回行うことによって、前記ターゲットデバイスの動作検証を行うテスト方法であって、
ｋ（ｊ≧ｋ≧２）回目のテストの１番目から（ｍ－１）（ｎ≧ｍ≧１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオを検索し、
（ｋ－１）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴を読み出し、
前記テストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択し、
前記ターゲットデバイス上で、前記選択したテストシナリオを実行し、
前記実行する処理後、ｋ回目のテストにおけるｍ番目のテストシナリオの実行履歴に関する前記テストシナリオ選択履歴を更新することを特徴するテスト方法。
【請求項２】
ｍ＝１の場合には、
前記検索する処理を実行せず、
前記選択する処理において、（ｋ－１）回目以前のテストで１番目に選択したことがないテストシナリオを、前記ｎ種類の全てのテストシナリオの中からｋ回目のテストの１番目に実行するテストシナリオとして選択することを特徴とする請求項１に記載のテスト方法。
【請求項３】
ｍ≧２の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における（ｍ－１）番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける（ｍ－１）番からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択することを特徴とする請求項１または２に記載のテスト方法。
【請求項４】
ｍ≧３の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における１番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載のテスト方法。
【請求項５】
前記選択する処理において、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中に、ｋ回目のテストのｍ番目のテストシナリオとして選択される条件を満たすテストシナリオがない場合に、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序のうちの、実行回数が最も少ない前記実行順序におけるｍ番目のテストシナリオを、ｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオとして選択することを特徴とする請求項２から４のいずれか１項に記載のテスト方法。
【請求項６】
前記ターゲットデバイスの現在の状態を取得する処理をさらに行い、
各テストシナリオは、該テストシナリオを実行するための開始条件である前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す開始条件状態と、テスト内容と、該テストシナリオの実行後における前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す終了状態とを含み、
前記選択する処理において、テストシナリオを複数選択した際に、該複数のテストシナリオのうちの、当該テストシナリオの前記開始条件状態が、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致するテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載のテスト方法。
【請求項７】
前記選択する処理において、前記複数のテストシナリオの中に、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致する開始条件状態を有するテストシナリオがないときに、該複数のテストシナリオから任意のテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定し、
前記実行する処理において、前記ターゲットデバイスの現在の状態から、決定された前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させてから、該テストシナリオを実行することを特徴とする請求項６に記載のテスト方法。
【請求項８】
前記ターゲットデバイスの状態を遷移させる際に、前記ターゲットデバイスの現在の状態から所定の中間状態に、そして該中間状態から前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させることを特徴とする請求項７に記載のテスト方法。
【請求項９】
ターゲットデバイスに所定の動作を実行させるためのｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次実行するテストをｊ（ｊ≧２）回行うことによって、前記ターゲットデバイスの動作検証を行うためのプログラムであって、
記憶部に対して、ｋ（ｊ≧ｋ≧２）回目のテストの１番目から（ｍ－１）（ｎ≧ｍ≧１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオを検索するステップと、
前記記憶部から、（ｋ－１）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴を読み出す処理と、
前記テストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択する処理と、
前記ターゲットデバイスに、前記選択したテストシナリオを実行させる処理と、
前記実行する処理後、ｋ回目のテストにおけるｍ番目のテストシナリオの実行履歴に関する前記テストシナリオ選択履歴を更新する処理とをコンピュータに実行させることを特徴するプログラム。
【請求項１０】
ｍ＝１の場合には、
前記検索する処理を実行せず、
前記選択する処理において、（ｋ－１）回目以前のテストで１番目に選択したことがないテストシナリオを、前記ｎ種類の全てのテストシナリオの中からｋ回目のテストの１番目に実行するテストシナリオとして選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９に記載のプログラム。
【請求項１１】
ｍ≧２の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における（ｍ－１）番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける（ｍ－１）番からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９または１０に記載のプログラム。
【請求項１２】
ｍ≧３の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における１番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９から１１のいずれか１項に記載のプログラム。
【請求項１３】
前記選択する処理において、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中に、ｋ回目のテストのｍ番目のテストシナリオとして選択される条件を満たすテストシナリオがない場合に、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序のうちの、実行回数が最も少ない前記実行順序におけるｍ番目のテストシナリオを、ｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオとして選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項１０から１２のいずれか１項に記載のプログラム。
【請求項１４】
前記ターゲットデバイスの現在の状態を取得する処理をさらに行い、
各テストシナリオは、該テストシナリオを実行するための開始条件である前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す開始条件状態と、テスト内容と、該テストシナリオの実行後における前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す終了状態とを含み、
前記選択する処理において、テストシナリオを複数選択した際に、該複数のテストシナリオのうちの、当該テストシナリオの前記開始条件状態が、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致するテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９から１３のいずれか１項に記載のプログラム。
【請求項１５】
前記選択する処理において、前記複数のテストシナリオの中に、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致する開始条件状態を有するテストシナリオがないときに、該複数のテストシナリオから任意のテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定し、
前記実行する処理において、前記ターゲットデバイスの現在の状態から、決定された前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させてから、該テストシナリオを実行するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項１４に記載のプログラム。
【請求項１６】
前記ターゲットデバイスの状態を遷移させる際に、前記ターゲットデバイスの現在の状態から所定の中間状態に、そして該中間状態から前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させるようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項１５に記載のプログラム。
【請求項１７】
ターゲットデバイスに所定の動作を実行させるためのｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次実行するテストをｊ（ｊ≧２）回行うことによって、前記ターゲットデバイスの動作検証を行うテスト装置であって、
前記ターゲットデバイスと接続可能な通信部と、
前記ｎ種類のテストシナリオと、（ｋ－１）（ｊ≧ｋ≧２）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴とを格納する記憶部と、
ｋ（ｊ≧ｋ≧２）回目のテストの１番目から（ｍ－１）（ｎ≧ｍ≧１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオを検索し、前記テストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択し、該選択したテストシナリオを前記通信部を経由して前記ターゲットデバイスに実行させ、前記実行する処理後、ｋ回目のテストにおけるｍ番目のテストシナリオの実行履歴に関する記憶部内の前記テストシナリオ選択履歴を更新するデータ処理部とを備えることを特徴とするテスト装置。
【請求項１８】
前記データ処理部は、ｍ＝１の場合には、前記検索する処理を実行せず、前記選択する処理において、（ｋ－１）回目以前のテストで１番目に選択したことがないテストシナリオを、前記ｎ種類の全てのテストシナリオの中からｋ回目のテストの１番目に実行するテストシナリオとして選択することを特徴とする請求項１７に記載のテスト装置。
【請求項１９】
各テストシナリオは、該テストシナリオを実行するための開始条件である前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す開始条件状態と、テスト内容と、該テストシナリオの実行後における前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す終了状態とを含み、
前記データ処理部は、前記ターゲットデバイスの現在の状態を取得する処理をさらに行い、前記選択する処理において、テストシナリオを複数選択した際に、該複数のテストシナリオのうちの、当該テストシナリオの前記開始条件状態が、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致するテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定することを特徴とする請求項１７または１８に記載のテスト装置。