テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

---

(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００４－３２６２３７（Ｐ２００４－３２６２３７Ａ）
(43)【公開日】平成１６年１１月１８日（２００４．１１．１８）
(54)【発明の名称】テストケース生成装置及びテストケース生成方法及びテストケース及びテスト方法
(51)【国際特許分類第７版】

   G06F 17/50    

【ＦＩ】

   G06F 17/50    672 A
   G06F 17/50    670 G
   G06F 17/50    672 C

【審査請求】有
【請求項の数】１０
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１８
(21)【出願番号】特願２００３－１１７０７０（Ｐ２００３－１１７０７０）
(22)【出願日】平成１５年４月２２日（２００３．４．２２）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００６０１３
【氏名又は名称】三菱電機株式会社
【住所又は居所】東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
(74)【代理人】
【識別番号】１０００９９４６１
【弁理士】
【氏名又は名称】溝井 章司
(74)【代理人】
【識別番号】１００１１１８００
【弁理士】
【氏名又は名称】竹内 三明
(74)【代理人】
【識別番号】１００１１４８７８
【弁理士】
【氏名又は名称】山地 博人
(74)【代理人】
【識別番号】１００１１８８１０
【弁理士】
【氏名又は名称】小原 寿美子
(72)【発明者】
【氏名】和田 祥子
【住所又は居所】東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三菱電機株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】中野 哲
【住所又は居所】東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三菱電機株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B046

【Ｆターム（参考）】

5B046 AA08 BA03 JA01 JA05 

---

(57)【要約】
【課題】試験の再実行の抑止や、解析時間の大幅な短縮を実現することができるテストケース生成装置を提供する。
【解決手段】解析支援情報を出力するシステムＬＳＩ機能検証方式において、テストケース生成装置が、プログラムカウンタ、汎用レジスタ、メモリ、入出力（Ｉ／Ｏ）を制御するレジスタなどの複数のＨ／Ｗ資源を有する回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続きを備えたテストケース１０６を生成して記憶するテストケース生成部１０５と、テストケース生成部１０５が生成した試験手続きをシミュレータ１０８により実行し機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を生成してテストケース１０６に記憶する原因解析情報生成部１５６とを備えた。
【選択図】 図１

---

【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の資源を有する回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続きを生成してテストケースとして記憶するテストケース生成部と、
テストケース生成部が生成した試験手続きによる機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を生成して記憶する原因解析情報生成部と
を備えたことを特徴とするテストケース生成装置。
【請求項２】
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として、複数の資源それぞれに設定され、いずれの資源であるかを特定可能な擬似データを生成する擬似データ生成部を備え、
上記テストケース生成部は、機能モデルの動作を試験する前に擬似データ生成部が生成した擬似データを各資源に設定する試験手続きを生成することを特徴とし、
上記試験手続きが実行された結果、資源から得られる結果値が擬似データである場合にその結果値を提供した資源がいずれの資源であるかを特定可能にすることを特徴とする請求項１記載のテストケース生成装置。
【請求項３】
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として、エラー結果とそのエラー要因との対応関係とエラー解析用メッセージとを生成するエラー解析用メッセージ生成部を備え、
上記テストケース生成部は、資源に対して試験が実行された場合にその資源に保持されるはずの期待値が既知の試験を実行し、その試験の実行により、その資源から得られる結果値と期待値とを比較することにより試験結果がエラーか否かを判定するとともに、試験結果がエラーであると判定される場合にエラー解析用メッセージを出力する試験手続きを生成することを特徴とする請求項１または２記載のテストケース生成装置。
【請求項４】
上記原因解析情報生成部は、
試験手続きが実行され資源が試験されることによりその資源に保持されることが期待される期待値を生成する資源別期待値生成部を備え、
上記テストケース生成部は、資源が試験されることによりその資源から得られる結果値と資源別期待値生成部が生成した期待値とを比較することにより試験結果がエラーか否かを判定する試験手続きを生成することを特徴とする請求項１～３いずれか記載のテストケース生成装置。
【請求項５】
上記テストケース生成部は、所定の順序で実行される複数の試験手続きからなる試験手続きを生成するとともに、
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として試験手続き別に試験手続きの内容と試験手続きが使用する資源の情報を生成し、試験手続き構成情報として記録する試験手続き別資源記録部を備え、
上記エラー解析用メッセージ生成部は、試験手続き別資源記録部が記録した試験手続き構成情報を用いてエラー解析用メッセージを生成すること特徴とする請求項３に記載のテストケース生成装置。
【請求項６】
上記テストケース生成部は、所定の順序で実行される複数の試験手続きからなる試験手続きを生成するとともに、
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として複数の試験手続きの実行順序を生成し、試験手続き実行順序期待値として記録する試験手続き実行順序期待値生成部を備え、
上記エラー解析用メッセージ生成部は、原因解析情報生成部が生成した試験手続き実行順序期待値を用いてエラー解析用メッセージを生成すること特徴とする請求項３記載のテストケース生成装置。
【請求項７】
上記テストケース生成部は、所定の順序で実行される複数の試験手続きからなる試験手続きを生成するとともに、
上記原因解析情報生成部は、
エラー原因解析情報として試験手続き別に試験手続きの内容と試験手続きが使用する資源の情報を生成し、試験手続き構成情報として記録する試験手続き別資源記録部と、
エラー原因解析情報として複数の試験手続きの実行順序を生成し、試験手続き実行順序期待値として記録する試験手続き実行順序期待値生成部と、
試験手続き別資源記録部が生成した試験手続き構成情報と試験手続き実行順序期待値生成部が生成した試験手続き実行順序期待値とを用いて、試験手続きが実行された場合にエラー結果を引き起こす試験手続きを試験手続き間継承情報として生成する試験手続き間継承関係生成部とを備え、
上記エラー解析用メッセージ生成部は、試験手続き間継承関係生成部が生成した試験手続き間継承情報を用いてエラー結果を引き起こす試験手続きをエラー要因としたエラー解析用メッセージを生成することを特徴とする請求項３記載のテストケース生成装置。
【請求項８】
複数の資源を有する回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続きを生成しテストケースとして記憶するテストケース生成工程と、
テストケース生成工程が生成した試験手続きによる機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を生成して記憶する原因解析情報生成工程と
を備えたことを特徴とするテストケース生成方法。
【請求項９】
回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続き部と、
試験手続き部による機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を試験手続きに対応させて記憶する原因解析情報記憶部と
を備えたことを特徴とするテストケース。
【請求項１０】
回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続き工程と、
エラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を予め試験手続きに対応させて生成しメモリに記憶する原因解析情報生成工程と、
試験手続き工程による機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、原因解析情報生成工程でメモリに記憶したエラー原因解析情報を試験手続きに対応させて表示する原因解析情報表示工程と
を備えたことを特徴とするテスト方法。