テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００４－３２６２３７（Ｐ２００４－３２６２３７Ａ）
(43)【公開日】平成１６年１１月１８日（２００４．１１．１８）
(54)【発明の名称】テストケース生成装置及びテストケース生成方法及びテストケース及びテスト方法
(51)【国際特許分類第７版】

   G06F 17/50    

【ＦＩ】

   G06F 17/50    672 A
   G06F 17/50    670 G
   G06F 17/50    672 C

【審査請求】有
【請求項の数】１０
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１８
(21)【出願番号】特願２００３－１１７０７０（Ｐ２００３－１１７０７０）
(22)【出願日】平成１５年４月２２日（２００３．４．２２）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００６０１３
【氏名又は名称】三菱電機株式会社
【住所又は居所】東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
(74)【代理人】
【識別番号】１０００９９４６１
【弁理士】
【氏名又は名称】溝井 章司
(74)【代理人】
【識別番号】１００１１１８００
【弁理士】
【氏名又は名称】竹内 三明
(74)【代理人】
【識別番号】１００１１４８７８
【弁理士】
【氏名又は名称】山地 博人
(74)【代理人】
【識別番号】１００１１８８１０
【弁理士】
【氏名又は名称】小原 寿美子
(72)【発明者】
【氏名】和田 祥子
【住所又は居所】東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三菱電機株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】中野 哲
【住所又は居所】東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三菱電機株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B046

【Ｆターム（参考）】

5B046 AA08 BA03 JA01 JA05 

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(57)【要約】
【課題】試験の再実行の抑止や、解析時間の大幅な短縮を実現することができるテストケース生成装置を提供する。
【解決手段】解析支援情報を出力するシステムＬＳＩ機能検証方式において、テストケース生成装置が、プログラムカウンタ、汎用レジスタ、メモリ、入出力（Ｉ／Ｏ）を制御するレジスタなどの複数のＨ／Ｗ資源を有する回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続きを備えたテストケース１０６を生成して記憶するテストケース生成部１０５と、テストケース生成部１０５が生成した試験手続きをシミュレータ１０８により実行し機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を生成してテストケース１０６に記憶する原因解析情報生成部１５６とを備えた。
【選択図】 図１

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の資源を有する回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続きを生成してテストケースとして記憶するテストケース生成部と、
テストケース生成部が生成した試験手続きによる機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を生成して記憶する原因解析情報生成部と
を備えたことを特徴とするテストケース生成装置。
【請求項２】
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として、複数の資源それぞれに設定され、いずれの資源であるかを特定可能な擬似データを生成する擬似データ生成部を備え、
上記テストケース生成部は、機能モデルの動作を試験する前に擬似データ生成部が生成した擬似データを各資源に設定する試験手続きを生成することを特徴とし、
上記試験手続きが実行された結果、資源から得られる結果値が擬似データである場合にその結果値を提供した資源がいずれの資源であるかを特定可能にすることを特徴とする請求項１記載のテストケース生成装置。
【請求項３】
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として、エラー結果とそのエラー要因との対応関係とエラー解析用メッセージとを生成するエラー解析用メッセージ生成部を備え、
上記テストケース生成部は、資源に対して試験が実行された場合にその資源に保持されるはずの期待値が既知の試験を実行し、その試験の実行により、その資源から得られる結果値と期待値とを比較することにより試験結果がエラーか否かを判定するとともに、試験結果がエラーであると判定される場合にエラー解析用メッセージを出力する試験手続きを生成することを特徴とする請求項１または２記載のテストケース生成装置。
【請求項４】
上記原因解析情報生成部は、
試験手続きが実行され資源が試験されることによりその資源に保持されることが期待される期待値を生成する資源別期待値生成部を備え、
上記テストケース生成部は、資源が試験されることによりその資源から得られる結果値と資源別期待値生成部が生成した期待値とを比較することにより試験結果がエラーか否かを判定する試験手続きを生成することを特徴とする請求項１～３いずれか記載のテストケース生成装置。
【請求項５】
上記テストケース生成部は、所定の順序で実行される複数の試験手続きからなる試験手続きを生成するとともに、
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として試験手続き別に試験手続きの内容と試験手続きが使用する資源の情報を生成し、試験手続き構成情報として記録する試験手続き別資源記録部を備え、
上記エラー解析用メッセージ生成部は、試験手続き別資源記録部が記録した試験手続き構成情報を用いてエラー解析用メッセージを生成すること特徴とする請求項３に記載のテストケース生成装置。
【請求項６】
上記テストケース生成部は、所定の順序で実行される複数の試験手続きからなる試験手続きを生成するとともに、
上記原因解析情報生成部は、エラー原因解析情報として複数の試験手続きの実行順序を生成し、試験手続き実行順序期待値として記録する試験手続き実行順序期待値生成部を備え、
上記エラー解析用メッセージ生成部は、原因解析情報生成部が生成した試験手続き実行順序期待値を用いてエラー解析用メッセージを生成すること特徴とする請求項３記載のテストケース生成装置。
【請求項７】
上記テストケース生成部は、所定の順序で実行される複数の試験手続きからなる試験手続きを生成するとともに、
上記原因解析情報生成部は、
エラー原因解析情報として試験手続き別に試験手続きの内容と試験手続きが使用する資源の情報を生成し、試験手続き構成情報として記録する試験手続き別資源記録部と、
エラー原因解析情報として複数の試験手続きの実行順序を生成し、試験手続き実行順序期待値として記録する試験手続き実行順序期待値生成部と、
試験手続き別資源記録部が生成した試験手続き構成情報と試験手続き実行順序期待値生成部が生成した試験手続き実行順序期待値とを用いて、試験手続きが実行された場合にエラー結果を引き起こす試験手続きを試験手続き間継承情報として生成する試験手続き間継承関係生成部とを備え、
上記エラー解析用メッセージ生成部は、試験手続き間継承関係生成部が生成した試験手続き間継承情報を用いてエラー結果を引き起こす試験手続きをエラー要因としたエラー解析用メッセージを生成することを特徴とする請求項３記載のテストケース生成装置。
【請求項８】
複数の資源を有する回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続きを生成しテストケースとして記憶するテストケース生成工程と、
テストケース生成工程が生成した試験手続きによる機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を生成して記憶する原因解析情報生成工程と
を備えたことを特徴とするテストケース生成方法。
【請求項９】
回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続き部と、
試験手続き部による機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、このエラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を試験手続きに対応させて記憶する原因解析情報記憶部と
を備えたことを特徴とするテストケース。
【請求項１０】
回路をモデル化した機能モデルの動作を試験する試験手続き工程と、
エラー原因を解析するためのエラー原因解析情報を予め試験手続きに対応させて生成しメモリに記憶する原因解析情報生成工程と、
試験手続き工程による機能モデルの動作の試験の結果がエラーになる場合、原因解析情報生成工程でメモリに記憶したエラー原因解析情報を試験手続きに対応させて表示する原因解析情報表示工程と
を備えたことを特徴とするテスト方法。

テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００９－７５７０４（Ｐ２００９－７５７０４Ａ）
(43)【公開日】平成２１年４月９日（２００９．４．９）
(54)【発明の名称】テスト方法およびテスト装置並びにプログラム
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/28     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A

【審査請求】未請求
【請求項の数】１９
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１８
(21)【出願番号】特願２００７－２４２０１０（Ｐ２００７－２４２０１０）
(22)【出願日】平成１９年９月１９日（２００７．９．１９）
(71)【出願人】
【識別番号】３０２０６２９３１
【氏名又は名称】ＮＥＣエレクトロニクス株式会社
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区下沼部１７５３番地
(74)【代理人】
【識別番号】１００１０３８９４
【弁理士】
【氏名又は名称】家入 健
(72)【発明者】
【氏名】松本 岳大
【住所又は居所】神奈川県川崎市中原区下沼部１７５３番地 ＮＥＣエレクトロニクス株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B042

【Ｆターム（参考）】

5B042 HH49 

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(57)【要約】
【課題】電子機器に対して、テストシナリオの実行順序がテスト結果に与える影響を容易に検証することを実現する。
【解決手段】ホストコンピュータは、ｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次ターゲットデバイスに実行させることを複数回行うことによってターゲットデバイスの動作検証を行う。ホストコンピュータは、ｋ（ｋ≧２）回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択する際に、記憶装置に格納された（ｋ－１）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、ｋ回目のテストの１番目から（ｍ－１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択する。
【選択図】図３

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ターゲットデバイスに所定の動作を実行させるためのｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次実行するテストをｊ（ｊ≧２）回行うことによって、前記ターゲットデバイスの動作検証を行うテスト方法であって、
ｋ（ｊ≧ｋ≧２）回目のテストの１番目から（ｍ－１）（ｎ≧ｍ≧１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオを検索し、
（ｋ－１）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴を読み出し、
前記テストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択し、
前記ターゲットデバイス上で、前記選択したテストシナリオを実行し、
前記実行する処理後、ｋ回目のテストにおけるｍ番目のテストシナリオの実行履歴に関する前記テストシナリオ選択履歴を更新することを特徴するテスト方法。
【請求項２】
ｍ＝１の場合には、
前記検索する処理を実行せず、
前記選択する処理において、（ｋ－１）回目以前のテストで１番目に選択したことがないテストシナリオを、前記ｎ種類の全てのテストシナリオの中からｋ回目のテストの１番目に実行するテストシナリオとして選択することを特徴とする請求項１に記載のテスト方法。
【請求項３】
ｍ≧２の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における（ｍ－１）番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける（ｍ－１）番からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択することを特徴とする請求項１または２に記載のテスト方法。
【請求項４】
ｍ≧３の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における１番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載のテスト方法。
【請求項５】
前記選択する処理において、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中に、ｋ回目のテストのｍ番目のテストシナリオとして選択される条件を満たすテストシナリオがない場合に、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序のうちの、実行回数が最も少ない前記実行順序におけるｍ番目のテストシナリオを、ｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオとして選択することを特徴とする請求項２から４のいずれか１項に記載のテスト方法。
【請求項６】
前記ターゲットデバイスの現在の状態を取得する処理をさらに行い、
各テストシナリオは、該テストシナリオを実行するための開始条件である前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す開始条件状態と、テスト内容と、該テストシナリオの実行後における前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す終了状態とを含み、
前記選択する処理において、テストシナリオを複数選択した際に、該複数のテストシナリオのうちの、当該テストシナリオの前記開始条件状態が、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致するテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載のテスト方法。
【請求項７】
前記選択する処理において、前記複数のテストシナリオの中に、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致する開始条件状態を有するテストシナリオがないときに、該複数のテストシナリオから任意のテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定し、
前記実行する処理において、前記ターゲットデバイスの現在の状態から、決定された前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させてから、該テストシナリオを実行することを特徴とする請求項６に記載のテスト方法。
【請求項８】
前記ターゲットデバイスの状態を遷移させる際に、前記ターゲットデバイスの現在の状態から所定の中間状態に、そして該中間状態から前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させることを特徴とする請求項７に記載のテスト方法。
【請求項９】
ターゲットデバイスに所定の動作を実行させるためのｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次実行するテストをｊ（ｊ≧２）回行うことによって、前記ターゲットデバイスの動作検証を行うためのプログラムであって、
記憶部に対して、ｋ（ｊ≧ｋ≧２）回目のテストの１番目から（ｍ－１）（ｎ≧ｍ≧１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオを検索するステップと、
前記記憶部から、（ｋ－１）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴を読み出す処理と、
前記テストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択する処理と、
前記ターゲットデバイスに、前記選択したテストシナリオを実行させる処理と、
前記実行する処理後、ｋ回目のテストにおけるｍ番目のテストシナリオの実行履歴に関する前記テストシナリオ選択履歴を更新する処理とをコンピュータに実行させることを特徴するプログラム。
【請求項１０】
ｍ＝１の場合には、
前記検索する処理を実行せず、
前記選択する処理において、（ｋ－１）回目以前のテストで１番目に選択したことがないテストシナリオを、前記ｎ種類の全てのテストシナリオの中からｋ回目のテストの１番目に実行するテストシナリオとして選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９に記載のプログラム。
【請求項１１】
ｍ≧２の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における（ｍ－１）番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける（ｍ－１）番からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９または１０に記載のプログラム。
【請求項１２】
ｍ≧３の場合には、
前記選択する処理において、ｋ回目における１番目からｍ番目までの実行順序が、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオからｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオを選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９から１１のいずれか１項に記載のプログラム。
【請求項１３】
前記選択する処理において、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中に、ｋ回目のテストのｍ番目のテストシナリオとして選択される条件を満たすテストシナリオがない場合に、（ｋ－１）回目以前のテストにおける１番目からｍ番目までの実行順序のうちの、実行回数が最も少ない前記実行順序におけるｍ番目のテストシナリオを、ｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオとして選択するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項１０から１２のいずれか１項に記載のプログラム。
【請求項１４】
前記ターゲットデバイスの現在の状態を取得する処理をさらに行い、
各テストシナリオは、該テストシナリオを実行するための開始条件である前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す開始条件状態と、テスト内容と、該テストシナリオの実行後における前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す終了状態とを含み、
前記選択する処理において、テストシナリオを複数選択した際に、該複数のテストシナリオのうちの、当該テストシナリオの前記開始条件状態が、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致するテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項９から１３のいずれか１項に記載のプログラム。
【請求項１５】
前記選択する処理において、前記複数のテストシナリオの中に、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致する開始条件状態を有するテストシナリオがないときに、該複数のテストシナリオから任意のテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定し、
前記実行する処理において、前記ターゲットデバイスの現在の状態から、決定された前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させてから、該テストシナリオを実行するようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項１４に記載のプログラム。
【請求項１６】
前記ターゲットデバイスの状態を遷移させる際に、前記ターゲットデバイスの現在の状態から所定の中間状態に、そして該中間状態から前記テストシナリオの開始条件状態に前記ターゲットデバイスの状態を遷移させるようにコンピュータを実行させることを特徴とする請求項１５に記載のプログラム。
【請求項１７】
ターゲットデバイスに所定の動作を実行させるためのｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次実行するテストをｊ（ｊ≧２）回行うことによって、前記ターゲットデバイスの動作検証を行うテスト装置であって、
前記ターゲットデバイスと接続可能な通信部と、
前記ｎ種類のテストシナリオと、（ｋ－１）（ｊ≧ｋ≧２）回目以前のテストのテストシナリオの実行順序を記録したテストシナリオ選択履歴とを格納する記憶部と、
ｋ（ｊ≧ｋ≧２）回目のテストの１番目から（ｍ－１）（ｎ≧ｍ≧１）番目までにまだ実行していない（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオを検索し、前記テストシナリオ選択履歴を参照して、（ｋ－１）回目以前のテストで実行されたテストシナリオの実行順序と異なるように、前記検索した（ｎ－（ｍ－１））種類のテストシナリオの中からｋ回目のテストのｍ番目として実行するテストシナリオを選択し、該選択したテストシナリオを前記通信部を経由して前記ターゲットデバイスに実行させ、前記実行する処理後、ｋ回目のテストにおけるｍ番目のテストシナリオの実行履歴に関する記憶部内の前記テストシナリオ選択履歴を更新するデータ処理部とを備えることを特徴とするテスト装置。
【請求項１８】
前記データ処理部は、ｍ＝１の場合には、前記検索する処理を実行せず、前記選択する処理において、（ｋ－１）回目以前のテストで１番目に選択したことがないテストシナリオを、前記ｎ種類の全てのテストシナリオの中からｋ回目のテストの１番目に実行するテストシナリオとして選択することを特徴とする請求項１７に記載のテスト装置。
【請求項１９】
各テストシナリオは、該テストシナリオを実行するための開始条件である前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す開始条件状態と、テスト内容と、該テストシナリオの実行後における前記ターゲットデバイスの所定の状態を示す終了状態とを含み、
前記データ処理部は、前記ターゲットデバイスの現在の状態を取得する処理をさらに行い、前記選択する処理において、テストシナリオを複数選択した際に、該複数のテストシナリオのうちの、当該テストシナリオの前記開始条件状態が、前記ターゲットデバイスの現在の状態と一致するテストシナリオをｋ回目のテストのｍ番目に実行するテストシナリオに決定することを特徴とする請求項１７または１８に記載のテスト装置。

テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００９－７５９４９（Ｐ２００９－７５９４９Ａ）
(43)【公開日】平成２１年４月９日（２００９．４．９）
(54)【発明の名称】オンラインシステムのテスト方法及びテストシステム
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/28     (2006.01)
   G06F  11/34     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A
   G06F 11/34        C

【審査請求】有
【請求項の数】４
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】１５
(21)【出願番号】特願２００７－２４５６０７（Ｐ２００７－２４５６０７）
(22)【出願日】平成１９年９月２１日（２００７．９．２１）
(71)【出願人】
【識別番号】０００１５２９８５
【氏名又は名称】株式会社日立情報システムズ
【住所又は居所】東京都品川区大崎１－２－１
(74)【代理人】
【識別番号】１１０００００７３
【氏名又は名称】特許業務法人プロテック
(72)【発明者】
【氏名】鈴木 勝己
【住所又は居所】東京都品川区大崎１－２－１ 株式会社日立情報システムズ内
(72)【発明者】
【氏名】土屋 陽一郎
【住所又は居所】東京都品川区大崎１－２－１ 株式会社日立情報システムズ内
(72)【発明者】
【氏名】金澤 克
【住所又は居所】東京都品川区大崎１－２－１ 株式会社日立情報システムズ内
【テーマコード（参考）】

5B042

【Ｆターム（参考）】

5B042 GA10 GB03 HH17 MC08 MC40 

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(57)【要約】
【課題】過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することができる方法及びシステムを提供する。
【解決手段】データベースの更新前後のデータ状態を履歴情報として格納しておくことにより、過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することを可能にする。
【選択図】図１

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力データに応じてデータベースを更新するオンラインシステムにおけるテストシステムであって、
入力データに応じたデータベースの更新を行う前の当該更新対象データを時系列的に格納する遡及情報データベースと、
入力データに応じたデータベースの更新を行った後の当該更新対象データを時系列的に格納する改定情報データベースと、
前記遡及情報データベースに格納された情報に基づいて、現在のデータベースに格納されたデータから過去のテスト対象時点における遡及データを生成する遡及データ生成手段と、
前記改定情報データベースに格納された情報に基づいて、過去のテスト対象時点における遡及入力データを生成する更新情報生成手段と、
前記遡及データに対して前記遡及入力データを適用することによりテストを実行する手段とを備えたテストシステム。
【請求項２】
前記オンラインシステムにおけるデータレイアウトの変更履歴情報を格納するレイアウト変更履歴情報データベースを備えており、
前記更新情報生成手段は、前記レイアウト変更履歴情報データベースを参照して、過去のテスト対象時点におけるデータレイアウトに適合した遡及入力データを生成することを特徴とする請求項１記載のテストシステム。
【請求項３】
入力データに応じてデータベースを更新するオンラインシステムにおけるテスト方法であって、
入力データに応じたデータベースの更新が発生する際に、
遡及情報データベースに更新前の当該更新対象データを時系列的に格納し、
改定情報データベースに更新後の当該更新対象データを時系列的に格納し、
テストを行う際に、
前記遡及情報データベースに格納された情報に基づいて、現在のデータベースに格納されたデータから過去のテスト対象時点における遡及データを生成し、
前記改定情報データベースに格納された情報に基づいて、過去のテスト対象時点における遡及入力データを生成し、
前記遡及データに対して前記遡及入力データを適用することによりテストを実行するテスト方法。
【請求項４】
前記オンラインシステムにおけるデータレイアウトの変更履歴情報をレイアウト変更履歴情報データベースに格納しておき、
テストを行う際に、前記レイアウト変更履歴情報データベースを参照して、過去のテスト対象時点におけるデータレイアウトに適合した遡及入力データを生成することを特徴とする請求項３記載のテスト方法。

テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

---

(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００９－９３４６２（Ｐ２００９－９３４６２Ａ）
(43)【公開日】平成２１年４月３０日（２００９．４．３０）
(54)【発明の名称】ユニットテスト装置、ユニットテスト方法、及びユニットテストプログラム
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/28     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A

【審査請求】有
【請求項の数】１５
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】２１
(21)【出願番号】特願２００７－２６４２１９（Ｐ２００７－２６４２１９）
(22)【出願日】平成１９年１０月１０日（２００７．１０．１０）
(71)【出願人】
【識別番号】０００００４２３７
【氏名又は名称】日本電気株式会社
【住所又は居所】東京都港区芝五丁目７番１号
(71)【出願人】
【識別番号】３９４０１７４９１
【氏名又は名称】株式会社ＮＥＣ情報システムズ
【住所又は居所】東京都港区芝三丁目８番２号
(74)【代理人】
【識別番号】１００１０２８６４
【弁理士】
【氏名又は名称】工藤 実
(72)【発明者】
【氏名】田邊 徹
【住所又は居所】東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】田村 浩路
【住所又は居所】東京都港区芝三丁目８番２号 株式会社ＮＥＣ情報システムズ内
(72)【発明者】
【氏名】川原畑 正
【住所又は居所】東京都港区芝三丁目８番２号 株式会社ＮＥＣ情報システムズ内
【テーマコード（参考）】

5B042

【Ｆターム（参考）】

5B042 GB02 HH13 HH17 HH32 MC35 NN04 NN05 NN22 NN23 

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(57)【要約】
【課題】ＵＩ層とＡＰ層を分離開発する際、ＵＩ層に対するユニットテスト工数を削減する。
【解決手段】本発明によるユニットテスト装置１０は、画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも１つの画面をテスト対象画面としてユニットテストを実施する。ユニットテスト装置１０は、テスト対象画面１００－２に対する遷移画面に関連する情報を、テストデータとして格納する記憶装置１３と、ユニットテストの際、スタブを実行するスタブ実行部８とを具備する。スタブ実行部８は、テスト対象画面１００－２の画面オブジェクトを呼び出し、本番実行時に画面オブジェクト１００－２に渡される情報の代わりに、記憶装置１３内のテストデータを画面オブジェクト１００－２に返却する。
【選択図】図１３

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも１つの画面をテスト対象画面としてユニットテストを実施するユニットテスト装置において、
本番実行時に、前記テスト対象画面の画面オブジェクトに渡される情報が、テストデータとして格納される記憶装置と、
前記ユニットテストにおいてスタブを実行するスタブ実行部と、
を具備し、
前記スタブ実行部は、前記テスト対象画面オブジェクトを呼び出し、前記テストデータを前記テスト対象画面オブジェクトに渡す
ユニットテスト装置。
【請求項２】
請求項１に記載のユニットテスト装置において、
前記テストデータは、本番実行時に、前記テスト対象画面の遷移元画面の画面オブジェクトから前記テスト対象画面オブジェクトに渡される画面間共有データを含み、
前記スタブ実行部は、前記記憶装置内の前記画面間共有データを前記テスト対象画面オブジェクトに渡す
ユニットテスト装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のユニットテスト装置において、
前記スタブ実行部は、前記テスト対象画面の遷移先画面の画面オブジェクトと、前記テスト対象画面オブジェクトとの間における画面間共有データをテスト結果データとして前記記憶装置に格納する
ユニットテスト装置。
【請求項４】
請求項３に記載のユニットテスト装置において、
前記スタブ実行部は、前記テスト対象画面の遷移先画面の画面オブジェクトを呼び出し、前記テスト結果データを前記遷移先画面オブジェクトに渡す
ユニットテスト装置。
【請求項５】
請求項１から４いずれか１項に記載のユニットテスト装置において、
前記テストデータは、本番実行時に、前記テスト対象画面オブジェクトに渡されるビジネスロジックに関するデータを含み、
前記スタブ実行部は、前記記憶装置内の前記ビジネスロジックに関するデータを前記テスト対象画面オブジェクトに渡す
ユニットテスト装置。
【請求項６】
請求項１から５いずれか１項に記載のユニットテスト装置において、
前記スタブは、画面定義ファイルからユニットテストモードに設定されたビルドツールを用いて生成された実行ファイルを実行することで呼び出される
ユニットテスト装置。
【請求項７】
請求項１から６いずれか１項に記載のユニットテスト装置において、
前記スタブ実行部は、前記テスト対象画面の遷移先及び／又は遷移元の画面を指定する遷移情報ファイルに基づいて前記テスト対象画面オブジェクトを呼び出す
ユニットテスト装置。
【請求項８】
画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも１つをテスト対象画面としてユニットテストを実施するユニットテスト方法において、
本番実行時に、前記テスト対象画面の画面オブジェクトに渡される情報を、テストデータとして記憶装置に格納するステップと、
前記ユニットテストの際、スタブを実行することで前記テスト対象画面を生成するステップと、
を具備し、
前記テスト対象画面を生成するステップは、
前記テスト対象画面オブジェクトを呼び出すステップと、
前記テストデータを前記テスト対象画面オブジェクトに渡すステップと、
を備えるユニットテスト方法。
【請求項９】
請求項８に記載のユニットテスト方法において、
前記テストデータは、本番実行時に、前記テスト対象画面の遷移元画面の画面オブジェクトから前記テスト対象画面オブジェクトに渡される画面間共有データを含み、
前記テスト対象画面を生成するステップは、前記記憶装置内の前記画面間共有データを前記テスト対象画面オブジェクトに渡すステップを更に備える
ユニットテスト方法。
【請求項１０】
請求項８又は９に記載のユニットテスト方法において、
前記テスト対象画面を生成するステップは、前記テスト対象画面の遷移先画面の画面オブジェクトと、前記テスト対象画面オブジェクトとの間における画面間共有データをテスト結果データとして前記記憶装置に格納するステップを更に具備する
ユニットテスト方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載のユニットテスト方法において、
前記テスト対象画面を生成するステップは、
前記テスト対象画面の遷移先画面の画面オブジェクトを呼び出すステップと、
前記テスト結果データを前記遷移先画面オブジェクトに渡すステップと、
を更に備えるユニットテスト方法。
【請求項１２】
請求項８から１１いずれか１項に記載のユニットテスト方法において、
前記テストデータは、本番実行時に前記テスト対象画面オブジェクトに渡されるビジネスロジックに関するデータを含み、
前記テスト対象画面を生成するステップは、前記記憶装置内の前記ビジネスロジックに関するデータを前記テスト対象画面オブジェクトに渡すステップを更に備える
ユニットテスト方法。
【請求項１３】
請求項８から１２いずれか１項に記載のユニットテスト方法において、
画面定義ファイルからユニットテストモードに設定されたビルドツールを用いて実行ファイルを生成するステップと、
前記実行ファイルを実行して前記スタブを呼び出すステップと、
を更に具備するユニットテスト方法。
【請求項１４】
請求項８から１３いずれか１項に記載のユニットテスト方法において、
前記テスト対象画面を生成するステップは、前記前記テスト対象画面の遷移先及び／又は遷移元の画面を指定する遷移情報ファイルに基づいて前記テスト対象画面オブジェクトを呼び出すステップを備える
ユニットテスト方法。
【請求項１５】
請求項８から１４いずれか１項に記載のユニットテスト方法をコンピュータに実行させるユニットテストプログラム。

テスト方法特許

（書誌＋要約＋請求の範囲）

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(19)【発行国】日本国特許庁（ＪＰ）
(12)【公報種別】公開特許公報（Ａ）
(11)【公開番号】特開２００９－１１６５３５（Ｐ２００９－１１６５３５Ａ）
(43)【公開日】平成２１年５月２８日（２００９．５．２８）
(54)【発明の名称】自動テストシステム及び自動テスト方法並びにプログラム
(51)【国際特許分類】

   G06F  11/28     (2006.01)

【ＦＩ】

   G06F 11/28    340 A

【審査請求】未請求
【請求項の数】９
【出願形態】ＯＬ
【全頁数】２３
(21)【出願番号】特願２００７－２８７６００（Ｐ２００７－２８７６００）
(22)【出願日】平成１９年１１月５日（２００７．１１．５）
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ
(71)【出願人】
【識別番号】０００００２１８５
【氏名又は名称】ソニー株式会社
【住所又は居所】東京都港区港南１丁目７番１号
(74)【代理人】
【識別番号】１０００６７７３６
【弁理士】
【氏名又は名称】小池 晃
(74)【代理人】
【識別番号】１０００９６６７７
【弁理士】
【氏名又は名称】伊賀 誠司
(72)【発明者】
【氏名】公文 一博
【住所又は居所】東京都港区港南１丁目７番１号 ソニー株式会社内
【テーマコード（参考）】

5B042

【Ｆターム（参考）】

5B042 HH17 HH19 

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(57)【要約】
【課題】テスト対象装置が操作された際のタイミングを正確にテストシナリオに記録することが可能な自動テストシステムを提供する。
【解決手段】テスト対象装置が、複数の操作要素を有する操作出力手段で操作された上記操作要素の識別情報を出力し、出力された操作要素の識別情報を操作要素が操作された第１の操作タイミングの情報と共に第１の記憶手段に記憶し、記憶された操作要素の識別情報及び第１の操作タイミングの情報の読み出しを行い、自動テスト装置が、操作要素の識別情報及び第１の操作タイミングの情報に基づく第２の操作タイミングの情報を第２の記憶手段に記憶し、操作要素の識別情報及び第２の操作タイミングの情報を読み出し、読み出された操作要素の識別情報及び第２の操作タイミングの情報に基づいて、テスト対象装置のテスト操作に基づく操作手順が記述されたテストシナリオを生成する。
【選択図】図１

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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト対象装置と、このテスト対象装置に接続されて上記テスト対象装置のテストを自動的に行う自動テスト装置とを備える自動テストシステムであって、
上記テスト対象装置は、
複数の操作要素を有し、操作された上記操作要素の識別情報を出力するための第１の操作入力手段と、
上記第１の操作入力手段から出力された操作要素の識別情報を当該操作要素が操作された第１の操作タイミングの情報と共に記憶するための第１の記憶手段と、
上記第１の記憶手段に対して上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報の記憶又は読み出しを行う第１の制御手段とを有し、
上記自動テスト装置は、
上記第１の制御手段により上記第１の記憶手段から読み出された上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報に基づく第２の操作タイミングの情報を記憶するための第２の記憶手段と、
上記操作要素の識別情報及び上記第２の操作タイミングの情報の記憶又は読み出しを上記第２の記憶手段に対して行う第２の制御手段と、
上記第２の制御手段により読み出された上記操作要素の識別情報及び上記第２の操作タイミングの情報に基づいて、上記テスト対象装置のテスト操作に基づく操作手順が記述されたテストシナリオを生成する第１の演算手段とを有する
ことを特徴とする自動テストシステム。
【請求項２】
上記第１の演算手段は、上記第２の制御手段から読み出された上記第２の操作タイミングの情報を補正して第３の操作タイミングの情報を得る時間補正部を有し、上記操作要素の識別情報及び上記第３の操作タイミングの情報に基づいて上記テストシナリオを生成することを特徴とする請求項１記載の自動テストシステム。
【請求項３】
上記第１の演算手段は、上記第１の記憶手段に記憶された上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報と、上記第２の制御手段が上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報を受信した時間とに基づいて、上記テスト対象装置と上記自動テスト装置との間で上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報が伝送される際に生じる反応遅れ時間を算出する遅れ時間算出部を有し、
上記時間補正部は、上記遅れ時間算出部により算出された上記反応遅れ時間に基づいて上記第３の操作タイミングの情報を得ることを特徴とする請求項２記載の自動テストシステム。
【請求項４】
上記テスト対象装置は、
上記第１の操作入力手段から出力された上記操作要素の識別情報を上記第１の制御手段が受信したときに、この操作要素の識別情報の受信時刻と上記操作要素の識別情報の直前に上記第１の制御手段が受信した操作要素の識別情報の受信時刻とから第１の差分時間を算出する第１の差分時間算出部を有し、
上記第１の制御手段は、上記第１の差分時間算出部により算出された上記第１の差分時間を上記第１の操作タイミングの情報として上記第１の記憶手段に記憶することを特徴とする請求項１記載の自動テストシステム。
【請求項５】
上記第１の演算手段は、上記第２の制御手段が上記操作要素の識別情報を受信した時刻と、この操作要素の識別情報の直前に上記第２の制御手段が受信した操作要素の識別情報を受信した時刻とから第２の差分時間を算出する第２の差分時間算出部を有し、
上記第２の制御手段は、上記第２の差分時間算出部により算出された上記第２の差分時間を上記第２の操作タイミングの情報として上記第２の記憶手段に記憶することを特徴とする請求項１記載の自動テストシステム。
【請求項６】
上記自動テスト装置に接続され、上記操作要素の識別情報に基づくスクリプト情報及び上記テスト操作を確認するための期待情報を出力するための第２の操作入力手段をさらに備え、
上記第１の演算手段は、上記操作要素の識別情報に基づくスクリプト情報及び上記期待情報に基づいて上記テストシナリオにシナリオを追加するシナリオ追加部とを有する
ことを特徴とする請求項１記載の自動テストシステム。
【請求項７】
上記第２の記憶手段は、上記第２の操作入力手段から出力された上記操作要素の識別情報に基づくスクリプト情報及び上記期待情報を記憶するための確認シナリオ記憶部を有し、
上記シナリオ追加部は、上記確認シナリオ記憶部から読み出された上記操作要素の識別情報に基づくスクリプト情報及び上記期待情報を上記追加するシナリオとして上記テストシナリオに追加することを特徴とする請求項６記載の自動テストシステム。
【請求項８】
テスト対象装置と、このテスト対象装置に接続されて上記テスト対象装置のテストを自動的に行う自動テスト装置とを備える自動テストシステムにおける自動テスト方法であって、
上記テスト対象装置が、
複数の操作要素を有する操作出力手段で操作された上記操作要素の識別情報を出力する出力工程と、
上記出力された操作要素の識別情報を当該操作要素が操作された第１の操作タイミングの情報と共に第１の記憶手段に記憶する第１の記憶工程と、
上記第１の記憶工程で記憶された上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報の読み出しを行う第１の読み出し工程と、
上記自動テスト装置が、
上記第１の読み出し工程で読み出された上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報に基づく第２の操作タイミングの情報を第２の記憶手段に記憶する第２の記憶工程と、
上記操作要素の識別情報及び上記第２の操作タイミングの情報を読み出す第２の読み出し工程と、
上記第２の読み出し工程で読み出された上記操作要素の識別情報及び上記第２の操作タイミングの情報に基づいて、上記テスト対象装置のテスト操作に基づく操作手順が記述されたテストシナリオを生成する生成工程とを有する
ことを特徴とする自動テスト方法。
【請求項９】
テスト対象装置と、このテスト対象装置に接続されて上記テスト対象装置のテストを自動的に行う自動テスト装置とを備える自動テストシステムにおける自動テスト方法をコンピュータで実行するためのプログラムであって、
上記テスト対象装置が、
複数の操作要素を有する操作出力手段で操作された上記操作要素の識別情報を出力する出力工程と、
上記出力された操作要素の識別情報を当該操作要素が操作された第１の操作タイミングの情報と共に第１の記憶手段に記憶する第１の記憶工程と、
上記第１の記憶工程で記憶された上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報の読み出しを行う第１の読み出し工程と、
上記自動テスト装置が、
上記第１の読み出し工程で読み出された上記操作要素の識別情報及び上記第１の操作タイミングの情報に基づく第２の操作タイミングの情報を第２の記憶手段に記憶する第２の記憶工程と、
上記操作要素の識別情報及び上記第２の操作タイミングの情報を読み出す第２の読み出し工程と、
上記第２の読み出し工程で読み出された上記操作要素の識別情報及び上記第２の操作タイミングの情報に基づいて、上記テスト対象装置のテスト操作に基づく操作手順が記述されたテストシナリオを生成する生成工程とを有する
ことを特徴とする自動テスト方法を実行するためのプログラム。